Enviar mensagem
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
ZEIT Optical Testing Equipment Lamp Reflector Shape Wafer Flatness Surface Defect Detection

Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície

  • Realçar

    Equipamento de teste ótico de ZEIT

    ,

    Detecção ótica do defeito de superfície do nivelamento da bolacha do equipamento de teste de ZEIT

    ,

    Equipamento de teste ótico da detecção do defeito de superfície do nivelamento da bolacha de ZEIT

  • Tamanho
    820mm*700mm*760mm, personalizável
  • customizável
    Disponível
  • Período de garantia
    1 ano ou caso por caso
  • Termos de envio
    Pelo mar/ar/transporte Multimodal, etc.
  • Lugar de origem
    Chengdu, PR CHINA
  • Marca
    ZEIT
  • Certificação
    Case by case
  • Número do modelo
    S1200-150
  • Quantidade de ordem mínima
    break
  • Preço
    Case by case
  • Detalhes da embalagem
    caixa de madeira
  • Tempo de entrega
    Caso a caso
  • Termos de pagamento
    T/T
  • Habilidade da fonte
    Caso a caso

Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície

Equipamento de superfície da detecção da forma do grande tamanho claro estrutural

 

 

Aplicações

Detecção da forma do refletor da lâmpada; detecção do nivelamento da bolacha; detecção da superfície da pintura do carro; detecção da forma da superfície da lente.

 

Princípio de funcionamento

A exposição projeta a luz estruturada no formulário da listra, e a câmera recolhe a luz estruturada do medido

a superfície, a listra recolhida é deformada com a modulação da superfície medida, a distribuição da nuvem do ponto

e a distribuição da curvatura da superfície medida é calculada de acordo com a deformação da listra, a seguir

a distribuição de erro de superfície da forma pode ser obtida comparando a distribuição da nuvem do ponto com o modelo ideal.

 

Características

     Modelo     SI200-150
     Escala de medição     200×150mm2
     Definição transversal      0.25mm convencionais, ajustável
     Precisão de medição      Erro absoluto: ±3μm (100mm no diâmetro)
Nota: Produção personalizada disponível.

                                                                                                             

Imagem da detecção

Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície 0

 

Nossas vantagens

Nós somos fabricante.

Processo maduro.

Resposta dentro de 24 horários laborais.

 

Nossa certificação do ISO

Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície 1

 

 

Partes de nossas patentes

Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície 2Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície 3

 

 

Partes de nossas concessões e qualificações do R&D

Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície 4Equipamento de Teste Ótico ZEIT Lâmpada Refletor Forma Wafer Planicidade Detecção de Defeitos de Superfície 5