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Wafer Flatness Detection Surface Shape Detection Equipment

Equipamento de Detecção de Formato de Superfície para Detecção de Planicidade de Wafer

  • Realçar

    Equipamentos de superfície ZEIT da inspeção da detecção do nivelamento da bolacha

    ,

    Equipamento de superfície da inspeção da detecção do nivelamento da bolacha de ZEIT

    ,

    Equipamento de superfície da inspeção da forma da detecção do nivelamento da bolacha de ZEIT

  • Tamanho
    Customizável
  • Customizável
    Disponível
  • Período de garantia
    1 ano ou caso por caso
  • Termos de envio
    Pelo mar/ar/transporte Multimodal, etc.
  • Lugar de origem
    Chengdu, PR CHINA
  • Marca
    ZEIT
  • Certificação
    Case by case
  • Número do modelo
    SSD-W-X—X
  • Quantidade de ordem mínima
    break
  • Preço
    Case by case
  • Detalhes da embalagem
    caixa de madeira
  • Tempo de entrega
    Caso a caso
  • Termos de pagamento
    T/T
  • Habilidade da fonte
    Caso a caso

Equipamento de Detecção de Formato de Superfície para Detecção de Planicidade de Wafer

Equipamento de superfície leve estrutural da detecção da forma da bolacha

 

 

Aplicações

Detecção do nivelamento da bolacha.

 

Princípio de funcionamento

A distribuição da nuvem do ponto e a distribuição da curvatura da superfície medida são calculadas de acordo com

a deformação da listra clara, e a distribuição de erro de superfície da forma podem ser obtidas comparando o ponto

distribuição da nuvem com modelo ideal.

 

Características

     Modelo      SSD-W-X-X
     Escala de medição      200×150mm2
     Definição transversal      0.25mm convencionais, ajustável
     Precisão de medição      Erro absoluto: ±3μm (100mm no diâmetro)
Nota: Produção personalizada disponível.

                                                                                                             

Imagem da detecção

Equipamento de Detecção de Formato de Superfície para Detecção de Planicidade de Wafer 0

 

Nossas vantagens

Nós somos fabricante.

Processo maduro.

 

Resposta dentro de 24 horários laborais.

 

Nossa certificação do ISO

Equipamento de Detecção de Formato de Superfície para Detecção de Planicidade de Wafer 1

 

 

Partes de nossas patentes

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Partes de nossas concessões e qualificações do R&D

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